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更好的清晰度
高達(dá)670萬像素的圖像分辨率提供令人滿意的亮度 、對比度、空間分辨率、景深以及灰度 ，向您呈現更清晰的圖像，並(bìng)進一步簡化您的分析。
更快速的檢測
高達30幀/秒的增強版實時檢測(cè)技術可實現實時圖像處(chù)理 ，快速提供最佳圖片以最大化處(chù)理量。
保持圖像銳度
QuadraNT™ X射線管提供的高分辨率圖像在高倍放大下仍能保持無與倫(lún)比的清晰度QuadraNT™爲您提供銳利清晰的圖像，特征分辨率爲0.1微米時 ，目标功率達(dá)10瓦，或特征分辨率爲0.3微米時，目标功率達(dá)20瓦。
易於使用
機殼的設計符合人體工程學，可優化用戶與系統交互的方式操作人員可迅速啓動(dòng)和運行可直觀操作的Gensys™檢測(cè)軟件 。
獨特的集成技術
Explorer™ one 在圖像鏈的每個步驟都具有專有技術，從生成和檢測(cè)X射線到圖像增強和測(cè)量。每個組件都有一個目的：爲電子檢測(cè)創(chuàng)建最高質量的圖像 。
Quadra® X射線管技術
高質量的圖像從X射線源開始。Explorer one使用QuadraNT®X射線管技術（也适用於我們的Quadra系列X 射線檢測工具）在每個功率級提供市場領先的圖像質量，而無需維護。
專門設計用於(yú)電子器件的檢測(cè)
能查看小至2μm的産品特性，這種高清細節的檢測(cè)功能與隻是 檢測(cè)鍵合是否存在有著(zhe)很大的區别 。專爲Explorer one 開發的AspireFP® one平闆探測(cè)器經過優 化，能在電子樣品中實現最高對比度 。
顯示最精細的細節
超過(guò)30種先進的過(guò)濾器可以顯示最清晰的圖像並(bìng)展示最精細的細節，讓您更快地找到特征和缺陷 。
一直朝上
絕對不會看錯方向。無論您從(cóng)哪個側(cè)面觀察，Explorer one 獨特的雙軸傾斜觀察功能均可使電路闆朝上，樣品肯定不會旋轉。
Jade Plus可以獨特地檢測(cè)您的産(chǎn)品品質。
内置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充，可快速查找並(bìng)表征缺陷，幫(bāng)助您達到IPC-A-610和IPC-7095合規标準。
0.95μm解析度決定瞭(le)是否能在無源元件中發(fā)現微裂紋。
諾信DAGE雙傾斜角探測(cè)器的獨(dú)特幾何結構是檢測(cè)缺陷的最快路徑，而這些缺陷僅在特定視角下才能看見。
第四代開放管技術非常适合以微米級解析度檢測(cè)電(diàn)子樣品。
Gensys軟件專爲電子檢測(cè)而開發，将全面的測(cè)量工具和自動化整合到一個可以快速學會的直觀點擊式平台中，因此您可以更快地獲得最大的生産(chǎn)力。
QuadraGEN專爲Quadra®系列高解析度X射線檢測(cè)系統而設計(jì)，可提供高質量X射線圖像所需的功率和穩定性。
高速AXI系統用於(yú)在線檢測(cè)
微焦斑X射線燈(dēng)管(閉(bì)管/免維護)
帶線性馬達(dá)驅動的多軸可編(biān)程運動系統
數字CMOS平闆探測器
自動灰階和幾何校準
條形碼掃描槍可用於(yú)讀取序列号和檢測(cè)程序切換
支持多種工業4.0标準的MES接口，實現全檢(jiǎn)測(cè)流程可追溯
符合IPC-CFX标準
靈活的AXI系統，可用於(yú)在線或離線自動化檢測(cè)
微焦斑X射線燈(dēng)管（閉(bì)管/免維護）
多軸可編(biān)程伺服馬達傳(chuán)動系統
數字CMOS平闆探測器
自動灰階幾何及校驗
靈活配置 ：可提供在線Pass through模式或同側(cè)進(jìn)出闆配置
配置條碼掃描槍後(hòu)可進行條碼讀(dú)取及機種選擇
客制化的MES平台提供瞭(le)完整的追蹤系統(tǒng)接口